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      采集系统规格:

      系统采用基于FPGA的采集加数据分析系统,包括如下几个部分:

      1.10bit2.2GSPSADC,单通道。采样率可以通过软件设置。
      2.低噪声模拟前端,支持+/-5V~+/-200mV信号输入,50Ω阻抗BNC接口。
      3.板载256MBDDR2内存。
      4.优化的USB2.0传输接口,支持33MB/s的连续传输速率。
      5.支持外部触发输入。
      6.16个可编程GPIO,可用于系统控制。
      7.高稳定度,超低低抖动时钟发生器。
      8.低噪声电源设计。
      9.板载高精度自适应校准电路及算法。
      10.LED显示,指示毛刺数量和状态。
      11.毛刺电平输出,兼容TTL电平。
      12.FPGA实现实时毛刺检测算法功能。
      13.采集数据时间戳功能。
      14.用户可通过小键盘或串口进行参数配置和模式选择。
      15.宽温设计-20℃~+90℃
      16.供电需求,单电源12DC输入,1A电流。
      17.外形尺寸:180mmX90mm

      系统整体框图如下:

    系统整体框图



      方案描述:

      该采集系统主要用于长时间采集1通道脉冲信号:
      1.采集脉冲信号,实时检测其脉冲上的毛刺,并判断有无毛刺。
      2.对毛刺信号进行计数(通过数码管显示),实时上报毛刺情况(通过IO输出)。
      3.保证ADC的SNR以及长时间宽温的工作稳定性。

      毛刺信号的检测算法:

      输出的信号如下:

     

    输出信号图



      为了准确检测包络信号的毛刺,我们首先检测信号峰值,并判断信号峰值的类型,是真正的峰值,还是毛刺的峰值。通过设置一定门限来区分毛刺和真正的峰值。

      为防止信号噪声的干扰,我们引入低通一阶导和低通二阶导的概念。检测流程如下:
     

    信号检测流程图
     

      其核心算法判断峰值中心,并同时向左向右(时间前后)进行边缘长度搜索,一单在门限以内还存在另一个峰值,就可以判断毛刺的存在。哪怕俩个峰值相互重合,通过检测峰值边缘长度也能判别叠加在峰值上的毛刺。

      同时为了准确的采集,采集系统的信噪比SNR必须得到保证。影响采集精度的主要要素有以下几点:

      量化误差、Clockjitter和ADCjitter、数字以及电源干扰

      量化精度的提高:

      对于量化误差对采集系统的影响,我们在该系统中选用10bit的ADC,理论

      

      Clockjitter的消除:

      该方案中采用温度补偿晶体TCXO以及业内顶级的JittercleaningCLKGenerator芯片来保证clock的稳定性,Clockjitter的消除以及极低的Phasenoise。

      在宽温工作环境下,普通的晶体随着工作温度的变化,晶体的稳定度和频率都会发生改变,为解决该问题,我们在设计中选用epson公司的TCXO,该晶体具有业内领先的温度稳定性,在宽温工作环境下不会超过+/-2ppm,其温度测试性能如下:

     

    温度测试性能



      对于时钟芯片的选择,也是基于同样的考虑,集成高精度高稳定的VCO,具有Jittercleaning功能和clkphaseadj功能。通常,jitter由ADC本身的jitter和CLKjitter组成,各自的RMS再组成总jitter的RMS:

     



      总jitter的RMS会在采集系统中产生白噪声,其关系如下:

     



      采集系统的总和


      采用本时钟解决方案,其总的clockjitter在系统中完全能做到<1ps。在忽略信号noise,DNL等情况下,fin和clockjitter有如下关系:

     



      系统电源干扰的解决方案:

      1.电源抑制(PSR)是采集系统的比较重要的指标,高的PSR能拟制电源上的CML共模噪声,该方案中选用的ADC具有80dB以上的电源拟制比。

      2.有效的数字-模拟电源隔离和滤波电路。本方案中采用PICOR的专业有源EMI滤波器,能在电源上产生65dB的共模制比和80dB的差模拟制比,远远高于通用的磁珠等EMI滤波效果。

      3.合理的PCB布线和接地

      板卡实物图:
     

    高速数据采集卡实物图

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